Pastāsti draugiem par šo preci:
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition Joseph Goldstein Third Edition 2003 edition
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Joseph Goldstein izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition
Joseph Goldstein
In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.
709 pages, biography
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2003. gada 31. janvāris |
| ISBN13 | 9780306472923 |
| Izdevēji | Springer Science+Business Media |
| Lapas | 689 |
| Izmēri | 178 × 255 × 38 mm · 1,68 kg |
Vairāk no Joseph Goldstein
Rādīt visuVairāk no tā paša izdevēja
Skatīt visus Joseph Goldstein ( piem., Paperback Book , Book , Hardcover Book , CD un Oracle cards/tarot c )