Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition - Joseph Goldstein - Grāmatas - Springer Science+Business Media - 9780306472923 - 2003. gada 31. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition Third Edition 2003 edition


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Joseph Goldstein izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.


709 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2003. gada 31. janvāris
ISBN13 9780306472923
Izdevēji Springer Science+Business Media
Lapas 689
Izmēri 178 × 255 × 38 mm   ·   1,68 kg

Vairāk no Joseph Goldstein

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja