Pastāsti draugiem par šo preci:
Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level Michael K. Miller 2000 edition
Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level
Michael K. Miller
The microanalytical technique of atom probe tomography (APT) permits the spatial coordinates and elemental identities of the individual atoms within a small volume to be determined with near atomic resolution.
239 pages, biography
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2000. gada 31. jūlijs |
| ISBN13 | 9780306464157 |
| Izdevēji | Springer Science+Business Media |
| Lapas | 239 |
| Izmēri | 170 × 244 × 20 mm · 544 g |
| Valoda | Angļu |
Vairāk no Michael K. Miller
Rādīt visuVairāk no tā paša izdevēja
Skatīt visus Michael K. Miller ( piem., Paperback Book un Hardcover Book )