Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization - A W Czanderna - Grāmatas - Springer Science+Business Media - 9780306458965 - 1998. gada 31. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization 2002 edition

Cena
€ 181,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 7. - 21. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem A W Czanderna izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.


430 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1998. gada 31. oktobris
ISBN13 9780306458965
Izdevēji Springer Science+Business Media
Lapas 430
Izmēri 156 × 234 × 25 mm   ·   811 g
Redaktors Czanderna, Alvin W.
Redaktors Madey, Theodore E.
Redaktors Powell, Cedric J.

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus A W Czanderna ( piem., Hardcover Book )