Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Grāmatas - Springer Science+Business Media - 9780306443602 - 1993. gada 31. jūlijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices 1993 edition

Cena
€ 180,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 20. jūl. - . gada 3. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem John T L Thong izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

Marc Notes: Includes bibliographical references and index. Table of Contents: Background to Electron Beam Testing; W. C. Nixon. Introduction; J. T. L. Thong. Principles and Applications; J. T. L. Thong. Essential Electron Optics; A. R. Dinnis. Electron Beam Interaction with Specimen; K. Ura. Electron Spectrometers and Voltage Measurements; L. Dubbeldam. High Speed Techniques; J. T. L. Thong. Picosecond Photoemission Probing; H. Beha, R. Clauberg. Signal and Image Processing; F. M. Boland, E. R. Lynch. System Integration; M. Battu, et al. Practical Considerations in Electron Beam Testing; T. J. Aton. Industrial Case Studies; D. W. Ranasinghe, et al. Index."

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1993. gada 31. jūlijs
ISBN13 9780306443602
Izdevēji Springer Science+Business Media
Lapas 462
Izmēri 178 × 254 × 32 mm   ·   1,05 kg
Redaktors Thong, John T.L.

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus John T L Thong ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )