Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements: Cryostat Design, Material Properties and Superconductor Critical-Current Testing - Ekin, Jack (National Institute of Standards and Technology, Boulder, Colorado, USA) - Grāmatas - Oxford University Press - 9780198570547 - 2006. gada 12. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Experimental Techniques for Low-Temperature Measurements: Cryostat Design, Material Properties and Superconductor Critical-Current Testing

Cena
€ 206,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 19. nov. - . gada 3. dec.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Ekin, Jack (National Institute of Standards and Technology, Boulder, Colorado, USA) izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Provides an integrated, step-by-step approach to the design and construction of low-temperature measurement apparatus. This work presents a practical perspective of heat transfer, materials selection, construction techniques, wiring, and more. It includes graphs, examples, and seventy appendix data tables.


704 pages, 218 b+w line drawings

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2006. gada 12. oktobris
ISBN13 9780198570547
Izdevēji Oxford University Press
Lapas 704
Izmēri 177 × 252 × 35 mm   ·   1,50 kg
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja