Pastāsti draugiem par šo preci:
Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials Choong-Un Kim
Cena
€ 292,99
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 1. - 15. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Choong-Un Kim izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
Choong-Un Kim
352 pages
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2011. gada 11. septembris |
| Oriģinālā izdošanas datums | 2016 |
| ISBN13 | 9780081016961 |
| Izdevēji | Elsevier Science & Technology |
| Lapas | 352 |
| Izmēri | 150 × 220 × 10 mm · 494 g |
| Redaktors | Kim, Choong-Un (University of Texas at Arlington, USA) |
