Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 2006. gada 21. februāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

Cena
€ 148,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 16. - 24. jūn.

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Pieejams arī kā:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2006. gada 21. februāris
Oriģinālā izdošanas datums 2005
ISBN13 9783540262428
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 420
Izmēri 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Valoda Vācu  
Redaktors Bhushan, Bharat
Redaktors Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver