Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Grāmatas - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692117 - 2022. gada 20. aprīlis
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Sebastian Huhn
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Cena
€ 113,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 18. - 26. jūn.

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Pieejams arī kā:

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2022. gada 20. aprīlis
ISBN13 9783030692117
Izdevēji Springer Nature Switzerland AG
Lapas 164
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   296 g
Valoda Vācu  

Vairāk no Sebastian Huhn

Rādīt visu

Mere med samme udgiver

Skatīt visus Sebastian Huhn ( piem., Hardcover Book , Paperback Book un Book )