Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 2013. gada 4. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Cena
€ 162,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 11. - 19. jūn.

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Pieejams arī kā:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2013. gada 4. jūnijs
ISBN13 9781489915245
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 462
Izmēri 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Valoda Angļu  
Redaktors Thong, John T.L.

Mere med samme udgiver

Skatīt visus John T L Thong ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )