CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Grāmatas - Cambridge University Press - 9781107408326 - 2014. gada 5. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

Cena
€ 43,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 5. - 19. jūn.

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Pieejams arī kā:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

194 pages, black & white illustrations

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2014. gada 5. jūnijs
ISBN13 9781107408326
Izdevēji Cambridge University Press
Lapas 194
Izmēri 152 × 229 × 10 mm   ·   412 g   (Svars (aptuveni))
Valoda Angļu  
Redaktors Butterbaugh, Jeffery W.
Redaktors Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Redaktors Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Redaktors Rachmady, Willy
Redaktors Taylor, Bill

Mere med samme udgiver